3.6. カード5: 核破砕・中性子照射計算の設定

表 3.6.1 AMP PHITS: same name

値	説明
(D=1.0, DP=自動計算 [1], JMODE=0,2が必要)	一次ビームによる放射化量を規格化する係数 [particle mA]。この係数は二次中性子による放射化には適用されない。線源強度が1 source/sの場合、線源粒子の種類によらず1.6022E-16 particle mAとなる。

表 3.6.2 EBEAM PHITS: same name

値	説明
(D=3.0, JMODE=0,2が必要)	一次ビームのエネルギー [GeV] [2]。

表 3.6.3 PRODNP PHITS: same name

値	説明
(D=1.0, JMODE=0,2が必要)	一次ビーム粒子1個あたりの中性子生成数。MCNP出力の中性子スペクトルから中性子フラックスを計算する場合（FLUXS=-1）に使用するパラメータであり、現在は実質的に非推奨である。

[1]

AMP は、PHITSの[T-Dchain]で指定した amp [source/s]に \(1.602177\times 10^{-16}\) mA/eを乗じて計算される。DCHAINでは、AMP を \(1.602177\times 10^{-16}\) で除してparticles/sに戻す。電荷が \(\pm\)1以外のビームについてDCHAIN入力の AMP を手動で設定する場合は、この換算に注意すること。また、DCHAINの AMP は各領域の FLUXS で指定する中性子フラックスには影響しない。一方、PHITSは[T-Dchain]の amp を用いて FLUXS を計算する。

[2]

EBEAM は、ITDECS=1の場合に、Pearlsteinの系統式 [Pea87] を用いて、エネルギー EBEAM GeVの入射陽子によるターゲット物質の核破砕・消滅断面積を計算するために使用する。この断面積は、ターゲット物質の減少に伴うビームフラックスの低下を計算し、そのターゲットから生成するすべての核種の生成量を補正するためだけに用いられる。ターゲット核種自体の実際の減少率は、PHITSが生成する*.dyldファイル中の負の収率によって決まる。ITDECS=1でない場合、EBEAM は出力ファイルに表示するビーム出力 [MW] の計算にのみ使用される。